Chroma19073三合一耐壓測(cè)試儀,■在耐壓測(cè)試方面,本儀器的輸出功率為AC︰100VA(5kV,20mA),DC︰30VA(6kV,5mA),因此可用來(lái)做為電子、電機(jī)方面等設(shè)備的耐壓或絕緣測(cè)試,亦可對(duì)零件產(chǎn)品做同樣的測(cè)試?!鲈诮^緣電阻測(cè)試方面,本儀器所能測(cè)試的范圍為0.1MΩ~50GΩ,而測(cè)試電壓為0.050kV~1kV可任意設(shè)定。
致茂Chroma 19071耐壓測(cè)試儀安規(guī)測(cè)試儀,交流5KV測(cè)量范圍、絕緣電阻測(cè)試三合一機(jī)型(19073),開(kāi) / 短路偵測(cè)功能(OSC),電氣閃絡(luò)偵測(cè)功能 (Flashover),具0.4ms快速切斷及0.2sec快速放電,提供可靠及穩(wěn)定的測(cè)試結(jié)果,可記憶 10 個(gè)測(cè)試步驟及60組記憶功能,人體保護(hù)功能(GFI).深圳市普利華科技有限公司強(qiáng)烈推薦這款超具性價(jià)比的產(chǎn)品。
致茂Chroma 19073耐壓測(cè)試儀是體積小的綜合耐壓測(cè)試器,交/直流耐壓、絕緣電阻測(cè)試三合一機(jī)型(19073),開(kāi) / 短路偵測(cè)功能(OSC),電氣閃絡(luò)偵測(cè)功能 (Flashover),具0.4ms快速切斷及0.2sec快速放電,提供可靠及穩(wěn)定的測(cè)試結(jié)果,可記憶 10 個(gè)測(cè)試步驟及60組記憶功能,人體保護(hù)功能(GFI).普利華科技有限公司強(qiáng)烈推薦。
固瑋GPT-9803電子安規(guī)測(cè)試儀。200VA測(cè)試容量 ※ 大型(240x64)點(diǎn)矩陣式LCD ※ 手動(dòng)/自動(dòng) 測(cè)試模式 ※ 具快速選擇功能鍵 ※ 高亮度警示及狀態(tài)指示燈
固瑋GPT-9804電子安規(guī)測(cè)試儀: 200VA測(cè)試容量 ※ 大型(240x64)點(diǎn)矩陣式LCD ※ 手動(dòng)/自動(dòng) 測(cè)試模式 ※ 具快速選擇功能鍵 ※ 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 ※ 具Interlock功能
固瑋GPT-9802電子安規(guī)測(cè)試儀。GPT-9804是4合一機(jī)種,具有交/直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試及交流接地阻抗測(cè)試功能、GPT-9803提供交/直流耐壓測(cè)試及絕緣電阻測(cè)試功能、GPT-9802具有交流及直流耐壓測(cè)試功能,而GPT-9801則僅提供交流耐壓測(cè)試功能。
固瑋GPT-9801電子安規(guī)測(cè)試儀。GPT-9804是4合一機(jī)種,具有交/直流耐壓測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試及交流接地阻抗測(cè)試功能、GPT-9803提供交/直流耐壓測(cè)試及絕緣電阻測(cè)試功能、GPT-9802具有交流及直流耐壓測(cè)試功能,而GPT-9801則僅提供交流耐壓測(cè)試功能。
固瑋GPT-9801/9802/9803/9804電子安規(guī)測(cè)試儀。200VA測(cè)試容量 ※ 大型(240x64)點(diǎn)矩陣式LCD ※ 手動(dòng)/自動(dòng) 測(cè)試模式 ※ 具快速選擇功能鍵 ※ 高亮度警示及狀態(tài)指示燈 ※ 具Interlock功能 ※ 零點(diǎn)輸出 ※ 輸出電壓上升時(shí)間控制 ※ True RMS電流量測(cè) ※ 高分辨率: 1uA(電流量測(cè)), 2V(電壓設(shè)定) ※ 使用PWM放大器, 確保測(cè)試效益及測(cè)試
供應(yīng)Chroma 19055/19055-C耐壓測(cè)試分析儀 500VA 輸出 Floating 輸出設(shè)計(jì),符合EN50191要求 Corona 電暈放電偵測(cè)(19055-C) Flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè) BDV崩潰電壓測(cè)試功能 HFCC高頻接觸偵測(cè) OSC開(kāi)短路偵測(cè)
供應(yīng)致茂Chroma 19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀 Chroma 19036為業(yè)界*結(jié)合脈沖測(cè)試,耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測(cè)于單機(jī)的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀,擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測(cè)。符合繞線元件測(cè)試需求且提供多通道掃描測(cè)試,單機(jī)10通道輸出可達(dá)成一次多顆掃描測(cè)試,節(jié)省測(cè)試時(shí)間及人力成本。
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